Drukte verwacht op het D&E Event

Over een week vindt de zeventiende editie van het Design Automation & Embedded Systems event plaats. Ongeveer 400 bezoekers komen naar Den Bosch voor de 32 lezingen, 33 exposanten en natuurlijk voor elkaar. Dit is de laatste nieuwsbrief dus meld u nu aan als u erbij wilt zijn. Centraal in het programma staan de thema’s: security, FPGA, embedded, internet of things, electronic design/production en testing. Voor testing is deze editie meer aandacht dan de voorgaande jaren.

André De Ceuninck van Logic Technology wil de bezoeker ervan overtuigen dat het functioneel testen van hardware beter kan. Functionele tests zijn onvermijdelijk en om kosten te drukken proberen fabrikanten en assemblage bedrijven het aantal testopstellingen te reduceren middels integratie. Met Test Management Software worden de diverse systemen aangestuurd en letterlijk tot één geheel verweven. Is een klassiek (PXI) testrack de enige manier om het testobject aan te sturen en de nodige metingen te verrichten? Zijn compacte/flexibele testers, geschikt voor laboratorium en productie, dus een utopie? Logic Technology zal er alles aan doen om de bezoeker te overtuigen dat het beter kan.

Sven De Coster van C.N. Rood praat in zijn lezing ‘Critical Considerations For Probing’ de bezoekers bij over de juiste manier van probing en de bijzondere aspecten van RF probing. Op hun stand staat de MDO3000 (Tektronix) met ingebouwde ocsilloscoop, spectrum analyzer, arbitrary functie generator, logic analyzer, protocol analyzer en digitale voltmeter.

Meld u aan voor een bezoek