Woensdagochtend 31 mei, Seminarzaal 1

Door het uitvoeren van DfX analyses op een productontwerp (virtueel) worden de theoretische productie yield (DfM) en first pass yield (DfT) waarden berekend. Deze waarden worden vervolgens als grenswaarden gedefinieerd in elke stap tijdens het productieproces (feed forward). Bij het doorlopen van elke teststap worden de testgegevens van het product opgeslagen in een testdatabase (big data) waarna deze gegevens real time geanalyseerd kunnen worden. De resultaten van deze analyses worden op hun beurt gebruikt om eventuele afwijkingen in het productieproces bij te sturen (feed back). Op deze manier wordt een gesloten lus (closed loop) verkregen zodat de kwaliteit gewaarborgd blijft.

Marcel Swinnen, tbp electronics

Terug naar programmaoverzicht