Vermogenselektronica is de laatste jaren een belangrijk onderwerp geworden. Dit is onder andere een gevolg van marktontwikkelingen op het gebied van vervoer dat steeds meer elektrisch wordt, groene energie en de toename van apparaten die op batterijen werken. Door nieuwe vermogenshalfgeleiders is het formaat aanzienlijk kleiner geworden en neemt de algehele efficiency toe. Daar staat tegenover dat de elektromagnetische interferentie ook toeneemt. In het seminar ‘Test & Meet of the future’ leert u hier meer over.
De drie belangrijkste ontwikkelingen op het gebied van vermogenselektronica zijn efficiency, betrouwbaarheid en naleving van bestaande regelgeving. Door nieuwe halfgeleiders zoals Siliciumcarbide (SiC) en galliumnitride-op-silicium (GaN) worden er vele voordelen geboden, bijvoorbeeld dat er minder koeling nodig is. Maar het heeft ook consequenties voor de interferentie. In de sessie van Thomas Rottach van SIGLENT Technologies Germany GmbH namens Tooltronics wordt informatie gegeven over de basisprincipes van geschakelde vermogensomzetters en de oorzaken van elektromagnetische interferentie en een inleiding gegeven over meetmethoden.
Veilige en betrouwbare metingen van schakelende voedingen
Er wordt steeds meer onderzoek gedaan naar energie-efficiënte batterijen, andere stroomvoorzieningen en converters. Dit is onder meer verklaarbaar door de snelle marktontwikkelingen in dit veld. Het is van groot belang dat elektronica-engineers zich realiseren dat het werken met enorme voltages mogelijke gevaren met zich meebrengt.
Om bepaalde metingen (die soms wel tot honderden of duizend volt oplopen) veilig en betrouwbaar uit te voeren moet er speciale aandacht aan de werkomstandigheden worden gegeven. Vooral in het geval van schakelende voedingen met zeer hoge voltages presenteert C.N. Rood in hun lezing een nieuwe meettechnologie die perfect geïsoleerd is en daarmee uitermate geschikt voor dit soort metingen.
Meer aandacht voor omgevingstesten
In de lezing ‘Robuustheidsverbetering bij nieuw ontwerp elektronicamodules’ breekt Kees Revenberg van MASER Engineering een lans voor omgevingstesten.
Voordat een nieuw elektronisch systeemontwerp vrijgegeven kan worden voor (volume)productie, moet het prototype een groot aantal testen ondergaan voor zowel certificering als kwaliteitseisen. In deze presentatie laat hij zien welke technieken er beschikbaar zijn om in korte tijd de zwakheden in een nieuw prototype aan te tonen en te verhelpen, zodat in de productiefase er een meer robuust product gemaakt zal worden.
Vooral bij voedingsmodulen is er extra aandacht nodig voor het aanstuur- en meetcircuit tijdens de beproevingen. De uitkomsten leiden vaak tot ontwerp-/onderdeelwijzigingen en is ook zeer bruikbaar voor het opzetten van een effectief stress screening-programma tijdens de productiefase.
Bent u geïnteresseerd om het seminar Test & Meet of the future te bezoeken op donderdagochtend 16 mei in de Jaarbeurs? Meld u dan kosteloos aan voor een beursbezoek aan E&A en noteer uw aanwezigheid bij dit seminar in de registratiemodule.
