Donderdagochtend 16 mei, Croesezaal
Het seminarprogramma van ’test & meet of the future’ bespreekt diverse actuele thema’s rondom het vakkundig doormeten en testen van elektronica. De lezingen leggen de nadruk op nieuwe technologieën en het toepassen daarvan.
Meld u aan voor een gratis beursbezoek.
Programma | |
09.00 – 09.30 |
Ontvangst met koffie & thee |
09.30 – 09.55 | Market Access and Acceptance Harry Roossien, voorzitter PLOT (download presentatie) |
09.55 – 10.20 | Elektromagnetische interferentie – het ongewenste effect van moderne vermogenselektronica Thomas Rottach, SIGLENT Technologies Germany GmbH namens Tooltronics (Engelstalig) (download presentatie) |
10.20 – 10.45 | Safe and reliable measurement on switch mode power supplies Enrico Citti, Tektronix on behalf of C.N. Rood (download presentation) |
10.45 – 11.00 | Pauze |
11.00 – 11.25 | Robuustheidsverbetering bij nieuw ontwerp elektronicamodules Kees Revenberg, MASER Engineering b.v. (download presentation) |
11.25 – 11.50 | Het belang van (elektrisch) testen na de productie en assemblage van een product Peter van Oostrom, Romex B.V. (download presentatie) |
11.50 – 12.15 | Environmental Stress Screening and its effectiveness during the production process of your product Kees Winkel, Weiss Technik (download presentation) |
12.15 | Afsluiting |
Terug naar conferentieprogramma