Normen schrijven voor dat deze uitstraling bepaald wordt door het elektrisch veld op te meten op een afstand van 3 of 10 meter (‘far-field metingen’). Net door deze grote afstand
reduceren deze testen zich tot pure pass/fail testen die heel weinig inzicht verschaffen over de echte oorzaak van een emissie-probleem. Debugging ontaardt veelal in trial-and-error met als gevolg dat bedrijven noodgedwongen kiezen voor dure noodoplossingen (extra metalen behuizing, extra filters,…). Opmeten van (common-mode) stromen op bekabeling, elektromagnetische velden dicht bij openingen/spleten en de diverse printborden (‘near-field metingen’), kan meer gedetailleerde informatie opleveren en helpen om de echte root-cause aan te duiden. Deze presentatie beschrijft hoe de combinatie van diverse near-field meettechnieken op efficiënte manier aangewend wordt om de root-cause van een EMC emissie probleem te vinden en op kost-efficiënte wijze op te lossen. De workflow omvat stroomprobes, hand-held near-field probes, near-field scanners, goedkope antennes,… Voor elke near-field meettechniek wordt de correcte meetwijze en interpretatie beschreven.
KU Leuven – Davy Pissoort