Activiteiten EMC-ESD Vereniging
Tot aan de zomer vindt een viertal activiteiten plaats van de Nederlandse EMC-ESD Vereniging. Dat zijn EMC op Tournee, Design 4 EMC, Platform voor handhaving en de EMC-Kennismarkt in combinatie met de Algemene Ledenvergadering. U kunt zich via het secretariaat aanmelden.
EMC op Tournee
Op 30 mei vindt EMC op Tournee plaats bij de Hogeschool van Amsterdam. De basis van EMC komt aan de orde met praktische voorbeelden. Aanvullend is het een netwerkkans met studenten en docenten.
Design 4 EMC
Tijdens de Bits&Chips Hardware Conference op 12 juni 2013 in 1931 Congrescentrum Brabanthallen zal een specifieke track verzorgd worden door de Nederlandse EMC-ESD Vereniging. De rode draad van de voorgestelde presentaties is vanzelfsprekend het rekening houden met elektromagnetische compatibiliteit tijdens het ontwerpproces. Bekijk hier het programma.
Platform voor handhaving
Op dinsdag 18 juni wordt in de ochtend voor de tweede keer een platformbijeenkomst georganiseerd bij de TU Eindhoven, waarbij handhaving van de EMC-richtlijn centraal staat. Zowel andere brancheorganisaties, overkoepelende instanties als handhavers worden uitgenodigd, om hierbij betrokken te zijn. De diverse richtlijnen en de Europese wetgevingen vragen om zorgvuldigheid en vakmanschap. Het thema is ‘zonnecel inverters’. U kunt zich aanmelden voor deze Platform bijeenkomst door een mail te sturen naar Eline Hazeleger.
EMC-Kennismarkt en Algemene Ledenvergadering
In het kader van EMC-kennisoverdracht organiseert de Nederlandse EMC-ESD Vereniging op 26 juni 2013 de EMC-Kennismarkt West bij de TU Delft met het thema Power Electronics & EMC. De EMC-kennismarkt brengt vraag en aanbod bij elkaar met betrekking tot EMC kennis. Bekijk hier het concept programma en meld u aan. Aansluitend aan de EMC kennismarkt vindt op 26 juni de Algemene Ledenvergadering plaats bij de TU Delft.
Genormaliseerde beproevingsmethode voor specifieke toepassingen- twee-punts weerstandsmeting
Onlangs is de IEC61340-4-10 gepubliceerd: ‘Genormaliseerde beproevingsmethode voor specifieke toepassingen- twee-punts weerstandsmeting’. Deze internationale standaard is gebaseerd op de eerder verschenen ANSI/ESD STM11.13 testmethode. De beschreven meetmethode is aanbevolen voor het testen van onderdelen/materialen met een onregelmatig gevormd oppervlak.
De conventionele concentrische ring en parallel elektrode configuraties zijn geschikt voor het meten van grote vlakke oppervlakken en voldoen niet voor het meten van kleine onregelmatig gevormde oppervlakken. De meeste verpakkingen in de componenten industrie zijn echter vaak klein en willekeurig gevormd (componenten tubes, – trays, carrier tapes etc.).
De in deze “IEC standard” beschreven meetmethode is gebaseerd op een twee-punts meting. De weerstand over het oppervlak van een materiaal wordt gemeten tussen twee punten (mini elektroden)
De beschreven testpen is uitgevoerd met twee elektroden die beide onder veerspanning staan tijdens meten waardoor een (enigszins) constante contact druk gerealiseerd kan worden.
De meetmethode is bedoeld voor het meten van weerstanden in het bereik van : 104 ≤ R < 1012Ω.
IEEE Distinguished Lecturer – Samuel Conner gives a talk – April 23rd 2013
“The Distinguished Lecturer Program is pleased to introduce a new program – the Respected Speaker Bureau. The EMC Society’s Distinguished Lecturer Program (DLP) provides speakers on various aspects of electromagnetic compatibility for EMC Society chapter meetings and similar functions. Speaking engagement arrangements are made by the benefiting organization directly with the Distinguished Lecturer.
Sam Connor has 3 themes:
- Automated EMC Design Rule Checking: Past, Present, and Future
- Differential Signaling Is the Opiate of the Masses
- Effective Use of Full-wave Models to Evaluate Design Tradeoffs
Click here for more information or download the program.”
