De huidige ESD kwalificatie methoden op apparaat niveau en op component-niveau zijn gebaseerd op verschillende normen die het menselijk lichaam model (HBM), het opgeladen apparaat methode (CDM), de (zeer snel) transmissie lijn puls testmethode (vf) TLP en de IEC 61000-4-2 en ISO 10605 productniveau ESD testmethoden.
De eerste vraag die moet worden beantwoord is of deze testen, met hun toepassing, lijken op de echte ESD bedreigingen die zich voordoen. Een diepgaande analyse van hoe deze tests worden uitgevoerd is nodig.
De tweede vraag die moet worden beantwoord, is over de ‘echte’ bedreigingen die de apparaten en modules, hetzij als onderdeel tijdens bewerking, hetzij tijdens het gebruik kapotmaken. Deze vraag omvat de ook de verder miniaturisatie effecten bij nanometer processen op steeds hoge data- en kloksnelheden.
De laatste vraag gaat over wat er noodzakelijk wordt geacht t.o.v. de huidige ESD eisen welke kunnen leiden dat op een hoger niveau van vertrouwen dat de som van de afzonderlijke maatregelen de SEED eisen kunnen afdekken.
EMCMCC – Mart Coenen