‘Every contact leaves a trace’ is het basis principe van de forensische wetenschap. Een dader zal op de plaats delict altijd sporen achterlaten en tegelijkertijd sporen meenemen. Voor het zoeken naar deze sporen en de daaropvolgende analyse wordt in een breed scala van forensische disciplines gebruik gemaakt van SEM/EDX.
Zo wordt deze techniek ingezet bij het zoeken naar schotresten. Dit zijn microscopisch kleine deeltjes die bij gebruik van een vuurwapen ontstaan en worden overgedragen op de schutter. De aanwezigheid van schotresten bij een verdachte vertelt zo iets over de betrokkenheid bij een incident. Ook bij andere soorten misdrijven waarbij sprake is van steken of andere vormen van geweld kunnen sporen van het gebruikte voorwerp – zoals een mes of hamer – met behulp van SEM/EDX worden opgespoord en geanalyseerd.
In deze presentatie wordt toegelicht hoe SEM/EDX wordt ingezet voor forensisch onderzoek en op welke wijze de resultaten worden gebruikt als puzzelstukjes in de rechtszaal.
Spreker: Alwin Knijnenberg, Nederlands Forensisch Instituut
