Ledenbijeenkomst PLOT bij NXP – 26 juni

Op 26 juni is PLOT te gast bij NXP te nijmegen. Het thema van deze middag is Statistische analyse.
Onderstaand treft u het programma:

12:00 – 12:30         Ontvangst met broodjes

12:30 – 13:30          Ledengedeelte

13:30 – 13:45         Introductie NXP door Peter Vullings – NXP

13:45 – 14:30          Lezing 1: Sample Sizes in Reliability Testing – door René Rongen – NXP

Na een korte inleiding wordt in het eerste deel van deze presentatie uitleg gegeven over steekproefgrootten vanuit historisch en statistisch perspectief. Het tweede deel van de lezing behandelt aan de hand van 3 voorbeelden hoe je tot een geschikte keuze van de steekproefgrootte kunt komen. In het laatste deel wordt het effect van langere testtijden als alternatief voor grotere sample sizes besproken op baisis van een aantal statistische overwegingen.

14:30 – 14:45         Pauze

14:45 – 15:15          Lezing 2: Weibull-verdeling – door Ronald Schop – Holland Innovative BV

De spreker gaat in op sample grootte aan de hand van de Weibull verdeling. Hoeveel samples heb je bij een test nodig, en waarvan is dat afhankelijk. Hoe betrouwbaarheid is je uitspraak na afloop van de test? Heb je geen 100 samples, maar slechts een paar… is Weibull statistiek dan toereikend of zijn er andere methodieken die beter toegepast kunnen worden?

15:15 – 16:30          Rondleiding: De rondleiding voert langs de 3 competenties van het Regionaal Quality Center (RQC): Fout analyse, Materiaal analyse en Reliability testing, alles met betrekking tot chips en chipfabricage.

16:30 – 17:15         Napraten/informeel samenzijn en afsluiting

 

Meld u aan door een mail te sturen naar eline@fhi.nl