Thema: Testen van ComponentenOp 7 juni 2012 heeft er een PLOT ledenbijeenkomst plaatsgevonden bij TE Connectivity in ‘s-Hertogenbosch. De presentaties die deze dag zijn gegeven kunt u hieronder downloaden:
Presentaties:
Ledenbijeenkomst, Bestuur
Lezing 1: Testen van connectoren, Dop Jooren – TE Connectivity
Lezing 2: Reliability testen van componenten, René Rongen – NXP
Lezing 3: Testen van componenten (batterijen) voor munitie, Ronnie van Leeuwen – Thales Cryogenics
PLOT conferentie – 29...