Micro-elektronica vraagt om nieuwe levensduur testen

Tijdens de PLOT Conferentie is er veel aandacht voor de elektronica en het testen van de levensduur. Jaap Haartsen (uitvinder van bluetooth en werkzaam voor Plantronics) laat zien hoe de communicatietechnologieën zich de laatste jaren ontwikkeld hebben. Deze communicatietechnologieën (denk aan de smartphone) dragen voor een belangrijk deel bij aan de miniaturisatie van de elektronica en een andere manier van testen. Jeroen Jalink van NXP Semiconductors zoomt tijdens zijn lezing verder in op deze miniaturisatie en het testen.

Voortschrijdende miniaturisatie in de halfgeleidertechnologie, om meer transistoren op een kleiner chipoppervlakte te plaatsen (bijvoorbeeld in geheugenchips) en meer chips op een steeds kleiner wordende printplaat te combineren (bijvoorbeeld in smartphones), maakt dat ook de behuizing van de elektronica steeds kleiner wordt. Als gevolg daarvan wordt de interactie van de chip met de printplaat belangrijker, wat vraagt om een andere benadering van levensduur testen. Jeroen Jalink van NXP Semiconductors staat stil bij de huidige uitdagingen en laat in zijn lezing verschillende methoden zien om toch een goede uitspraak over de levensduur te kunnen doen.

Meld u aan voor een gratis bezoek.