Van producten die elektronica componenten bevatten, worden voor vrijgave levensduur / stress testen uitgevoerd. Maar, al in een veel eerder stadium, bij het maken van de elektronische componenten / IC’s worden al betrouwbaarheid / levensduur testen gedaan. Vanuit zijn achtergrond, gaat de spreker kennis delen over betrouwbaarheids / levensduur testen op wafer niveau. Tevens laat de spreker zien dat test methoden en test opstellingen gewoon met standaard instrumentatie is uit te voeren.
Bert Broekhuizen, CN Rood