Het steeds kleiner worden van de individuele CMOS IC structuren, rickting de 7-10nm, heeft ook gevolgen voor het beproeven van de betrouwbaarheid vam die producten. De digitale verwerkingscapaciteit en complexiteit neemt enorm toe. Daarbij ook de verschillen in junctie-temperatuur onder gelijke omgevingsomstandigheden.
Beide aspecten hebben bij MASER Engineering tot een onderzoek naar een nieuwe generatie van beproevingsapparatuur geleid. Dit systeem is nu gevonden. De presentatie laat een aantal van de nieuwe aspecten zien. Het debug systeem in aanwezig op de stand.
Kees Revenberg, MASER Engineering