Tomorrow’s Reliability: thema van de PLOT Conferentie

Leden van het Platform Omgevingstechnologie verrichten testen om uiteindelijk tot producten te komen die in praktijkomstandigheden net zo functioneren als verwacht wordt door de klant. De focus ligt op de toekomstige betrouwbaarheid en dat komt tot uiting in het lezingenprogramma van de conferentie, die op 29 november 2018 plaatsvindt in het techniekHuys te Veldhoven. Een concreet voorbeeld is de presentatie van René Rongen van NXP Semiconductors over de evolutie van kwalificatiemethoden in de Automotive industrie.

Het vakgebied van omgevingstechnologie is een specialisme, dat met een grote diversiteit van testen erop gericht is om een design, een ontwikkeling, de apparatuur of systemen te verbeteren. Er is een sterke groep deskundigen in een programma verzameld, zodat u op één dag een schat aan kennis kan opdoen. Er zijn veel sprekers te noemen, zoals vertegenwoordigers van Signify, Philips Healthcare en C.N. Rood, maar de dag begint met de presentatie van NXP Semiconductors.

René Rongen gaat in op de evolutie van de kwalifactiemethoden en standaarden voor micro-elektronica in de Automotive (verder dan AEC-Qxx). Dat begint bij de vaststelling dat technologieën, zowel in de halfgeleider/wafer technologie als in de assemblage, door de hogere integratie steeds complexer worden. Tegelijkertijd worden gebruiksvoorwaarden steeds veeleisender door nieuwe toepassingsmogelijkheden.

Daardoor wordt specifiek in de Automotive vastgesteld, dat de betrouwbaarheidsmarges afnemen en de gevestigde AEC-Qxx-normen zich naar een volgend niveau moeten ontwikkelen. Om deze evolutie te ondersteunen, zal de relevantie van het begrip over ‘Physics of Degradation or Change’ in relatie tot algemeen gebruikte betrouwbaarheids stresstest methoden worden besproken.

Hier  kunt u het programma van de PLOT Conferentie bekijken. Op de site kunt u zich ook aanmelden voor een gratis bezoek.