Hoog frequente karakterisatie voor apparatuur op nanoschaal

Elektronische apparatuur wordt steeds kleiner. In dit continue proces is het van cruciaal belang, dat de ondersteunende meetinstrumenten zich mee ontwikkelen, om state-of-the-art technologieën mogelijk te maken. Routinematige taken van conventionele meetinstrumenten bieden enorme uitdagingen op nano-schaal. Faisal Mubarak van VSL zal op het RF Technology event in Nederland spreken over de ontwikkeling van een meetsysteem voor apparatuur op nanoschaal.

Mubarak gaat in op de Vector Network Analyzer (VNA). Dit instrument wordt ingezet om de elektrische eigenschappen te karakteriseren van apparaten, die werken met hoge frequenties. De huidige generatie VNA’s hebben zich ontwikkeld tot de hoeksteen van de meettechnologie in de RF en microgolfindustrie.

VSL heeft diverse projecten lopen rond Vector Network Analyzers. Zo is de spreker, Faisal Mubarak betrokken bij een project waarin herleidbare meetmethoden voor reflectie- en transmissiemetingen in planaire circuits en componenten ontwikkeld worden. Binnen dit project voor de industrie worden ook internationale richtlijnen en normen voor vectormeetonzekerheid en verificatiemethoden opgesteld.

Aanvullend vindt u op de site van VSL een publicatie over de ‘Residual Error Analysis of a Calibrated Vector Network Analyzer’. Het RF Technology event biedt u de kans de deskundigheid van VSL mee te maken in het lezingenprogramma.

Hier kunt u het volledige programma van de Nederlandse RF Technology dag bekijken. Op de site kunt u zich ook aanmelden voor een gratis bezoek.